多颗MOS并联时热分布不均,导致个别器件过热失效的原因与对策
在高功率应用中,为了分担电流、降低损耗,工程师往往会将多颗MOSFET并联使用。例如在DC-DC电源、马达驱动或逆变器电路中,通过并联MOS实现更大的电流承载能力与更低的导通阻抗。然而,MDD FAE在现场常遇到这样的问题:虽然设计理论上电流均分,但实测发现某颗MOS温度明显偏高,最终提前热失效。这种“热分布不均”的现象是并联设计中最常见、也最容易被忽视的隐患之一。
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