如何搞定高EMI环境下的信号完整性?基于PJSD24CW_R1_00001的ESD防护方案
在高速信号接口和工业控制电路的设计中,静电放电(ESD)和电快速瞬变脉冲群(EFT)是导致系统“死机”或接口芯片烧毁的两大元凶。很多工程师在选型时往往面临两难:防护等级高的器件通常寄生电容大,影响信号质量;而低电容的器件往往抗浪涌能力不足。
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